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                  激光平面干涉儀 PG15—J
            關健字:  使用幫助
             
            一、儀器用途
             
            PG15-J型激光平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器,主要用于精密測量光學平面度。激光平面干涉儀配有激光光源(波長為6328A)。對于干涉條紋可目視、測量讀數、照相留存記錄。工作時對防震要求一般。該儀器可應用于光學車間、實驗室、計量室。如需配購相關的必要附件,可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性,光學鍍膜面或金屬塊規表面的平面度,90o棱角的直角誤差及角錐棱鏡單角和綜合誤差。

            二、工作原理
             
            激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。根據近代光學的研究結果,光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的 波動性的特性。
            激光平面干涉儀
              激光平面干涉儀 PG15—J
            、技術參數:
            1、第一標準平面(A面),不鍍膜。 工作直徑:D1=Φ146mm        不平度小于0.02μm(λ/30)。
            2、第二標準平面(B面),不鍍膜。 工作直徑:D2=Φ140mm        不平度小于0.03μm(λ/20)。
            3、準直系統:孔徑F/2.8, 工作直徑:D1=Φ146mm 焦距:f=400mm.
            4、測微目鏡:焦距f=16.7mm,放大倍數β=15X,視場角2w=40o
            成像物鏡:I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37
            5、干涉室尺寸:深260*寬300*190mm。
            6、光源規格:激光ZN18(He-Ne),上海玻璃儀器一廠出品。
            7、儀器的外形尺寸:長*寬*高 350*400*720mm。
            8、儀器重量:100公斤。
             
             
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